|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of atomic force microscopy (AFM) tip shapes by scanning hydrothermally deposited ZnO thin films |
| Auteur: |
Bao, G.W Li, S.F.Y |
| Verschenen in: |
Talanta |
| Paginering: | Jaargang 45 (1998) nr. 4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |