|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 104 gevonden artikelen
| Titel: |
Fourier transform spectral imaging microscopy (FT-SIM) and scanning Raman microscopy for the detection of indoor common contaminants on the surface of dental implants |
| Auteur: |
Lutin, Anna Bulatov, Valery Jadwat, Yusuf Wood, Neil H. Feller, Liviu Schechter, Israel |
| Verschenen in: |
Talanta |
| Paginering: | Jaargang 134 (2015) nr. C pagina's 514-523 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 104 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |