|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Polarized laser scattering detection of low-density and micron-scale subsurface cracks in silicon wafer |
| Auteur: |
Shi, Fangyuan Lv, Qixin Zhou, Ping Bai, Qian |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 86 () nr. C pagina's 75-81 |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |