Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 18 van 32 gevonden artikelen
 
 
  In-situ sub-aperture stitching measurement based on monoscopic phase measuring deflectometry
 
 
Titel: In-situ sub-aperture stitching measurement based on monoscopic phase measuring deflectometry
Auteur: Chen, Ting
Chen, Yunuo
Lang, Wei
Zhang, Xiangchao
Wang, Wei
Xu, Min
Verschenen in: Precision engineering
Paginering: Jaargang 85 () nr. C pagina's 197-204
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Inc.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 18 van 32 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland