|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A double-sided surface scanning platform for sapphire substrate quality assessment |
| Auteur: |
Cheng, Fang Chen, Tao Yu, Qing Cui, Changcai Tjahjowidodo, Tegoeh Su, Hang |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 84 () nr. C pagina's 191-201 |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |