|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Microscopic stress analysis of nanoscratch induced sub-surface defects in a single-crystal silicon wafer |
| Auteur: |
Huang, Ning Zhou, Ping Goel, Saurav |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 82 () nr. C pagina's 290-303 |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |