|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Global and local defect detection for 3D printout surface based on geometric shape comparison |
| Auteur: |
Ye, Byounghun Kim, Ku-Jin Sacks, Elisha P. |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 82 () nr. C pagina's 324-337 |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |