|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of nanoscratch anisotropy of C-plane sapphire wafer using friction force microscope |
| Auteur: |
Lin, Wangpiao Shimizu, Jun Zhou, Libo Onuki, Teppei Ojima, Hirotaka |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 73 () nr. C pagina's 51-62 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |