|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Development an identification method of friction coefficient between wafer and carrier in double-sided lapping |
| Auteur: |
Hashimoto, Yohei Sano, Tomoya Furumoto, Tatsuaki Hosokawa, Akira |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 56 (2019) nr. C pagina's 364-369 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |