|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
TFT-LCD mura defect detection using DCT and the dual-γ piecewise exponential transform |
| Auteur: |
Jin, Shiqun Ji, Chao Yan, Chengchen Xing, Jinyu |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 54 (2018) nr. C pagina's 371-378 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |