|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 73 gevonden artikelen
| Titel: |
Dimensional metrology with X-ray CT: A comparison with CMM measurements on internal features and compliant structures |
| Auteur: |
Villarraga-Gómez, Herminso Lee, ChaBum Smith, Stuart T. |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. C pagina's 291-307 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 73 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |