|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Simultaneous interferometric measurement of the absolute thickness and surface shape of a transparent plate using wavelength tuning Fourier analysis and phase shifting |
| Auteur: |
Kim, Yangjin Hibino, Kenichi Kizaki, Toru Sugita, Naohiko Mitsuishi, Mamoru |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 48 (2017) nr. C pagina's 347-351 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |