|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental and theoretical investigation of needle contact behavior of wafer level probing |
| Auteur: |
Chang, Hao-Yuan Pan, Wen-Fung Lin, Shueei-Muh |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 35 (2011) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |