|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Image processing nanoparticle size measurement for determination of density values to correct the ELPI measures |
| Auteur: |
Coudray, Nicolas Dieterlen, Alain Vidal, Loïc Roth, Estelle Trouvé, Gwénaëlle Bistac, Sophie |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 32 (2008) nr. 2 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |