|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface profile measurement of a sinusoidal grid using an atomic force microscope on a diamond turning machine |
| Auteur: |
Gao, Wei Aoki, Jun Ju, Bing-Feng Kiyono, Satoshi |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 31 (2007) nr. 3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |