|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanometer edge profile measurement of diamond cutting tools by atomic force microscope with optical alignment sensor |
| Auteur: |
Gao, Wei Motoki, Takenori Kiyono, Satoshi |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 30 (2006) nr. 4 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |