|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A tensile test device for in situ atomic force microscope mechanical testing |
| Auteur: |
Bamberg, Eberhard Grippo, Christian P. Wanakamol, Panitarn Slocum, Alexander H. Boyce, Mary C. Thomas, Edwin L. |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 30 (2006) nr. 1 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |