|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of parameters of associated base straight line in step height samples: Uncertainty evaluation in step height measurements using nanometrological AFM |
| Auteur: |
Misumi, Ichiko Gonda, Satoshi Kurosawa, Tomizo Azuma, Yasushi Fujimoto, Toshiyuki Kojima, Isao Sakurai, Toshihisa Ohmi, Tadahiro Takamasu, Kiyoshi |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 30 (2006) nr. 1 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |