|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Intercomparison of scanning probe microscopes |
| Auteur: |
Breil, R Fries, T Garnaes, J Haycocks, J Hüser, D Joergensen, J Kautek, W Koenders, L Kofod, N Koops, K.R Korntner, R Lindner, B Mirandé, W Neubauer, A Peltonen, J Picotto, G.B Pisani, M Rothe, H Sahre, M Stedman, M Wilkening, G |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 26 (2002) nr. 3 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |