|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
A 6-degree-of-freedom measurement system for the accuracy of X-Y stages |
| Auteur: |
Fan, Kuang-Chao Chen, Mu-Jung |
| Verschenen in: |
Precision engineering |
| Paginering: | Jaargang 24 (2000) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |