|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Simultaneous thickness and surface profiling of blank mask and its experimental verification using robust harmonic fringe-iterative algorithm and Fizeau interferometer |
| Auteur: |
Kim, Sungtae Kim, Yangjin Hibino, Kenichi Sugita, Naohiko Mitsuishi, Mamoru |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 520 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |