|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate determination of two-dimensional thin film thickness in spectroscopic imaging reflectometer using color camera and tunable aperture |
| Auteur: |
Kim, Min-gab Choi, Garam |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 435 (2019) nr. C pagina's 75-80 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 71 gevonden artikelen
| volgende >> |