|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Physical thickness and group refractive index measurement of individual layers for double-stacked microstructures using spectral-domain interferometry |
| Auteur: |
Park, Jungjae Bae, Jaeseok Kim, Jong-Ahn Jin, Jonghan |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 431 (2019) nr. C pagina's 181-186 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |