Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 44 gevonden artikelen
 
 
  Atomic force microscopy for two-dimensional materials: A tutorial review
 
 
Titel: Atomic force microscopy for two-dimensional materials: A tutorial review
Auteur: Zhang, Hang
Huang, Junxiang
Wang, Yongwei
Liu, Rui
Huai, Xiulan
Jiang, Jingjing
Anfuso, Chantelle
Verschenen in: Optics communications
Paginering: Jaargang 406 (2018) nr. C pagina's 3-17
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 44 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland