|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface defects evaluation system based on electromagnetic model simulation and inverse-recognition calibration method |
| Auteur: |
Yang, Yongying Chai, Huiting Li, Chen Zhang, Yihui Wu, Fan Bai, Jian Shen, Yibing |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 390 (2017) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |