|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
Amplified phase measurement of thin-film thickness by swept-source spectral interferometry |
| Auteur: |
Shen, Yi Chen, Zhiyan Bao, Wen Pan, Cong Zhao, Chen Li, Peng Ding, Zhihua |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 355 (2015) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |