|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Real structure effects in X-ray waveguide optics: The influence of interfacial roughness and refractive index profile on the near-field and far-field distribution |
| Auteur: |
Osterhoff, Markus Salditt, Tim |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 282 (2009) nr. 16 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |