|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
A technique to assess the reliability of the second-order susceptibility determination of thin films |
| Auteur: |
Siltanen, Mikael Kauranen, Martti |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 261 (2006) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |