|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
A new method of determining the optical constants of a thin film from its reflectance and transmittance interferograms in a wide spectral range: 0.2–3 μm |
| Auteur: |
Khashan, M.A El-Naggar, A.M Shaddad, E |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 178 (2000) nr. 1-3 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |