|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel derivative ellipsometric method for the study of the growth of thin films: Titanium |
| Auteur: |
De Nijs, J.M.M. Van Silfhout, A. |
| Verschenen in: |
Thin solid films |
| Paginering: | Jaargang 173 (1989) nr. 1 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1989 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| volgende >> |