|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
On the evaluation of depth resolution from depth profiles of multilayers: Comment on “multiple point depth profiling of multilayer Cr-Ni thin film structures deposited on a rough substrate using scanning Auger microscopy” |
| Auteur: |
Marton, D. László, J. |
| Verschenen in: |
Thin solid films |
| Paginering: | Jaargang 136 (1986) nr. 1 pagina's nvt p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |