|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Reflection high energy electron diffraction and X-ray studies of AlN films grown on Si(111) and Si(001) by organometallic chemical vapour deposition |
| Auteur: |
Chubachi, Yoshiki Sato, Kiyotaka Kojima, Kiyoaki |
| Verschenen in: |
Thin solid films |
| Paginering: | Jaargang 122 (1984) nr. 3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1984 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |