|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of scanning X-ray analytical microscope to the petrographic characterization of a ductile shear zone: an alternative method to image microstructures |
| Auteur: |
Michibayashi, K. Togami, S. Takano, M. Kumazawa, M. Kageyama, T. |
| Verschenen in: |
Tectonophysics |
| Paginering: | Jaargang 310 (1999) nr. 1-4 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 5 gevonden artikelen
| volgende >> |