|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
An iterative approach to remove the influence of light ray bending from micron-scale scattered light tomography |
| Auteur: |
Hödemann, Siim Valdmann, Andreas Kiisk, Valter |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 91 (2017) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| volgende >> |