|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Subwavelength metrological chracterization by Mueller matrix polarimeter and finite difference time domain method |
| Auteur: |
Adhikari, Achyut Dev, Kapil Asundi, Anand |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 86 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |