|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Multi-wavelength phase-shifting interferometry for micro-structures measurement based on color image processing in white light interference |
| Auteur: |
Guo, Tong Li, Feng Chen, Jinping Fu, Xing Hu, Xiaotang |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 82 (2016) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |