|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Optical thickness measurement of mask blank glass plate by the excess fraction method using a wavelength-tuning interferometer |
| Auteur: |
Kim, Yangjin Hibino, Kenichi Sugita, Naohiko Mitsuishi, Mamoru |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 51 (2013) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |