|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ SEM investigation of sub-microscale deformation fields around a crack-tip in silicon |
| Auteur: |
Li, J.J. Zhao, C.W. Xing, Y.M. Hou, X.H. Fan, Z.C. Jin, Y.J. Wang, Y. |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 50 (2012) nr. 12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |