|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale surface roughness characterization by full field polarized light-scattering |
| Auteur: |
Liu, Cheng-Yang Fu, Wei-En Lin, Tzeng-Yow Chang, Chi-Sheng Chen, Jay-San |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 49 (2011) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |