|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Rapid optical measurement of surface roughness of polycrystalline thin films |
| Auteur: |
Kuo, Chil-Chyuan Chao, Chin-Sheng |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 48 (2010) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |