|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Internal profile measurement of GaAs microstructures based on near-infrared light phase-stepping interferometry |
| Auteur: |
Chou, Xiujian Liu, Yi Niu, Kangkang Liu, Jun Xue, Chenyang Zhang, Wendong |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 48 (2010) nr. 12 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |