|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Silicon microelement vibration testing using conventional and heterodyned time-average interferometry with automated temporal and spatial phase stepping |
| Auteur: |
Styk, Adam Patorski, Krzysztof |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 47 (2009) nr. 3-4 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |