|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A high-precision optical metrology system for determining the thickness of birefringent wave plates |
| Auteur: |
Yeh, Yen-Liang Lin, Yen-Pin Chen, Kuang-Sheng |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 45 (2007) nr. 11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |