|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale deformation measurement by using the hybrid method of gray-level and holographic interferometry |
| Auteur: |
Chien, C.H. Wu, Y.D. Chiou, Y.T. Hsieh, C.C. Chen, Y.C. Chen, T.P. Tsai, M.L. Wang, C.T. |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 44 (2006) nr. 1 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |