|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Full field and microregion deformation measurement of thin films using electronic speckle pattern interferometry and array microindentation marker method |
| Auteur: |
Li, Xide Wei, Cheng Yang, Yan |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 43 (2005) nr. 8 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |