|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
An application of Raman spectroscopy on the measurement of residual stress in porous silicon |
| Auteur: |
Kang, Yilan Qiu, Yu Lei, Zhenkun Hu, Ming |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 43 (2005) nr. 8 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| volgende >> |