|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Electronic speckle pattern interferometry for mechanical testing of thin films |
| Auteur: |
Augulis, L. Tamulevic̆ius, S. Augulis, R. Bonneville, J. Goudeau, P. Templier, C. |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 42 (2004) nr. 1 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |