|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Automatic recognition and evaluation of micro-contaminant particles on ultra-smooth optical substrates using image analysis method |
| Auteur: |
Shi, X.K Hua, M Cheung, E.H.M Li, M Yuan, W.Z |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 41 (2004) nr. 6 pagina's 17 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |