|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of thickness of a thin film by means of laser interference at many incident angles |
| Auteur: |
Ishikawa, Kazuhiko Yamano, Hitomi Kagawa, Ki-ichiro Asada, Katsuhiko Iwata, Koichi Ueda, Masahiro |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 41 (2004) nr. 1 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |