|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Self-marking phase-stepping electronic speckle pattern interfometry (ESPI) for 3D displacement measurement on cathode ray tube (CRT)-panels |
| Auteur: |
Huang, M.J Liu, Zhao-Cheng Jhang, Jhen-Huei |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 38 (2002) nr. 5 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 9 gevonden artikelen
| << vorige |